docSpecyfikacja techniczna
download 
Reklamacja Transkrypt
Specyfikacja techniczna
SPECYFIKACJA TECHNICZNA Załącznik nr 1 Zakup, dostawa i instalacja skaningowego mikroskop elektronowego z przystawką EDS. 1. WYMAGANIA TECHNICZNE 1.1. Założenia ogólne Przedmiotem zakupu oraz dostawy jest skaningowy mikroskop elektronowy SEM z przystawką EDS dla Laboratorium Międzyuczelnianego w Stalowej Woli. Urządzenie będzie wykorzystywane, jako stanowisko do badań morfologii powierzchni ciał stałych w mikro- i nanoskali. Dodatkowe wyposażenie w postaci mikroanalizatora rentgenowskiego EDS umożliwia jakościowy i ilościowy pomiar pierwiastków w badanych próbkach. W celu potwierdzenia, parametrów oferowanego przedmiotu zamówienia należy do oferty dołączyć opisy w formie papierowej, które w sposób jednoznaczny pozwolą stwierdzić, że parametry eksploatacyjno – techniczne oferowanego urządzenia będą zgodne z wymaganiami Zamawiającego. Urządzenie musi spełniać wymagania dyrektywy "Nowego Podejścia UE” - znak CE, oraz wymagania odpowiednich norm przedmiotowych. 1.2. Parametry techniczne urządzenia 1.2.1. PODSTAWOWE WYMAGANIA TECHNICZNE SEM Lp. Nazwa parametru Mikroskop 1 Rozdzielczość w trybie wysokiej próżni . (detektor SE) 2 Rozdzielczość w trybie wysokiej próżni . (detektor wewnątrz soczewki obiektywu) SE 3 Rozdzielczość w trybie zmiennej próżni (BSE) . 4 Napięcie przyspieszające . Wielkość parametru nie gorsza niż 1.2 nm przy 30 kV 2.5 nm przy 3 kV nie gorsza niż 1 nm przy 30 kV 2nm przy 3 kV nie gorsza niż 2.0 nm przy 30 kV 200 V do 30 kV z możliwością płynnej regulacji Lp. Nazwa parametru 5 Prąd próbki . Wielkość parametru nie gorszy niż 1pA do 200 nA 6 Powiększenia . od 2 do 1.000.000 razy 7 Komora mikroskopu . min. 12 wolnych portów do zainstalowania detektorów i urządzeń Stolik mikroskopowy 8 Zautomatyzowany we wszystkich osiach . X: minimum. 130 mm TAK 9 Detektor SE z kryształem YAG . TAK 1 BSE z kryształem YAG. Detektor na ruchomym ramieniu 0 pozwalającym na wysunięcie detektora z komory. Detektor . wyposażony w podwójny scyntylator. TAK 1 Detektor SE do pracy w trybie zmiennej próżni 1 . TAK 1 Detektor wewnątrz soczewki obiektywu przeznaczony do 2 obrazowania SE . TAK 1 Detektor wewnątrz soczewki obiektywu przeznaczony do 3 obrazowania BSE . TAK 1 Detektor EDS, typu SDD (silicon drift detector), bez 4 chłodzenia ciekłym azotem . TAK 1 Minimalna powierzchnia aktywna okienka detektora 5 . ≥ 70 mm2, Y: minimum. 130 mm Z: minimum. 100 mm Pochylanie: minimum od -30 o do +90o Rotacja: 3600 Detektory 1 Minimalna, gwarantowana rozdzielczość detektora dla linii 6 Mn K-alfa . 127 eV (zgodnie z ISO 15632 2012) Lp. Nazwa parametru Wielkość parametru 1 Minimalna, gwarantowana rozdzielczość detektora dla linii 7 F K-alfa . 64 eV (zgodnie z ISO 15632 2012) 1 Minimalna, gwarantowana rozdzielczość detektora dla linii 8 C K-alfa: . 56 eV (zgodnie z ISO 15632 2012) 1 Gwarantowana stabilność detektora: zmiana rozdzielczości i 9 pozycji piku mniejsza niż 1 eV przez mianie zliczeń od 1000 . do 100 000 zliczeń na sekundę. TAK 2 Detektor EDS, typu SDD (silicon drift detector), bez 0 chłodzenia ciekłym azotem, minimalna powierzchnia 2 . aktywna okienka detektora ≥ 10 mm TAK Optyka mikroskopu 2 Soczewki elektronowe pozwalające na płynne przełączanie 1 się między trybami pracy umożliwiającymi: . - obserwacje ze zwiększoną głębią ostrości TAK 2 2 . TAK 2 3 . - obserwacje z powiększonym polem widzenia - pochylanie wiązki elektronowej (osi skanowania) o zadany (regulowany) kąt w celu uzyskiwania obrazów stereoskopowych wykorzystywanych do rekonstrukcji 3D obserwowanych powierzchni. Kolumna mikroskopu nie zawiera żadnych mechanicznych elementów wymagających centrowania. Efektywna średnica wiązki elektronowej jest regulowana elektromagnetycznie w sposób ciągły przy pomocy dedykowanej soczewki elektronowej. Automatyczne centrowanie wszystkich elementów optyki elektronowej. TAK Dodatkowe wyposażenie mikroskopu 2 Kamera podglądu komory 4 . TAK 2 Układ pomiaru prądu próbki 5 . TAK 2 Układ wykrywania kontaktu próbki z elementami komory, 6 który ostrzega sygnałem dźwiękowym oraz blokuje dalszy . ruch stolika mikroskopu. TAK 2 Układ wyhamowywania wiązki elektronowej (Beam 7 Deceleration), który umożliwia uzyskiwanie . wysokorozdzielczych obrazów przy niskich energiach wiązki TAK padającej na próbki. Lp. Nazwa parametru Wielkość parametru 2 Urządzenie typu Plasma Cleaner zintegrowane z 8 mikroskopem skaningowym przeznaczone do czyszczenia . komory i powierzchni próbek. TAK 2 Pneumatyczny układ zawieszenia kolumny 9 . TAK System próżniowy poniżej 9×10-3 Pa 3 Próżnia robocza 0 . 3 Tryb zmiennej próżni 1 . w zakresie co najmniej od 7 do 500 Pa. 3 Brak chłodzenia cieczowego w układzie próżniowym i 2 elektronooptycznym. . TAK 3 Pompa turbomolekularną, 3 pompa wstępną bezolejową typu scroll, . dwie pompy jonowe. TAK Obsługa mikroskopu 3 Zapis obrazów: 8192×8192 pikseli w postaci plików bmp, 4 tiff, JPG, jpeg2000, GIF, PNG. . Możliwość zapisu z rozdzielczością 16384×16384 pikseli , TAK 3 Komputer PC w konfiguracji ZALECANEJ przez producenta 5 z dwoma monitorami LCD o przekątnej minimum 24 cale, . panel sterujący TAK 16 bit. Oprogramowanie 3 Oprogramowanie mikroskopu umożliwiające pomiary i 6 przetwarzanie obrazów. . 3 Podstawowe oprogramowanie biurowe: arkusz kalkulacyjny 7 i edytor tekstu, z możliwością pełnej edycji dokumentów w . formatach .xlsx i .docx, z możliwością bezpośredniego TAK TAK w języku polskim zapisu do formatu .pdf 3 Możliwość nakładania na siebie sygnałów z dwóch 8 detektorów z możliwością określenia udziału sygnału z . poszczególnych detektorów w obrazie składanym. TAK Lp. Nazwa parametru Wielkość parametru 3 Oprogramowanie detektora EDS powinno umożliwić: 9 • jakościową i ilościową analizę w punkcie oraz dowolmnym obszarze nieregularnym zdefiniowanym . TAK 4 0 . TAK 4 1 . 4 2 . 4 3 . przez operatora, • możliwość stosowania własnych standardów do analizy ilościowej, tworzenia własnych bibliotek wzorców przez operatora. Oprogramowanie detektora EDS powinno umożliwić: • zbieranie map rozkładu pierwiastków z rozwiązaniami zapewniającymi rozróżnienie nakładających się pików na etapie zbierania spektrum oraz po jego zebraniu, • mapowanie ilościowe, • zbieranie profilii rozkładu pierwiastków wzdłuż zadanej linii z rozwiiązaniami zapewniajacymi możliwość rozróżniania nakładających się pików na etapie zbierania spektrum oraz po jego zebraniu, • rekonstrukcję spektrum z zebranych wcześniej map i profili liniowych. Oprogramowanie detektora EDS powinno umożliwić: • analizę typu PhaseMap – możliwość rozróżniania faz w próbce na podstawie zebranych map. Ilościowa charakteryzacja rozpoznanych faz prezentowana w postaci wykresu trójkątnego, • automatyczną analiza cząstek z możliwością definiowana własnych klas w zależności od wielkości i składu chemicznego obiektów. Analizę automatyczna zapewniająca analizę dużych obszarów (ograniczonych zakresem ruchu stolika mikroskopu) według zadanych kryteriów, • automatyzację wszystkich procedur analitycznych, kontrola stolika mikroskopu SEM, kontrola pozycji wiązki z poziomu oprogramowania systemu EDS. Oprogramowanie detektora EDS powinno umożliwić: • rekonstrukcję spektrum EDS opartego o listę pierwiastków i ich zawartość procentową zdefiniowanych przez operatora, • narzędzia do pomiaru składu chemicznego oraz grubości cienkich warstw o grubości od 2 nm do 2000 nm, oprogramowanie musi być integralną częścią głównej aplikacji analitycznej systemu EDS i w pełni z nią zintegrowaną, • analizę ilościowa z linii i zdefiniowanych siatek składających się z punktów, których ilość definiuje operator. • reakcyjny i predykcyjny mechanizm kontroli dryftu zawarty w głównej aplikacji (oprogramowaniu) systemu EDS. Oprogramowanie detektora EDS powinno umożliwić eksport wszystkich danych do popularnych formatów takich jak MS Word, Excel itp. Akcesoria TAK TAK TAK Lp. Nazwa parametru Wielkość parametru 4 Napylarka próżniowa do pokrywania próbek metalami i 4 węglem w wysokiej próżni z możliwością pomiaru grubości . warstwy napylonej. TAK 4 Zasilacz awaryjny UPS o odpowiedniej mocy w celu 5 zapewnienia bezpiecznego wyłączenia mikroskopu w . przypadku braku zasilania elektrycznego. TAK 4 Automatyczny aparat sorpcyjny do pomiaru powierzchni 6 właściwej i dystrybucji wielkości porów w zakresie . mezoporów. TAK 4 Ultrapiknometr gazowy, rzdzielczość pomiaru objętości: 3 3 7 0,0001 cm , zakres objętości próbek: 0,1- 135 cm , zakres . ciśnień roboczych: 1-20 psig (0,07-1,4 atm). TAK 4 Mineralizator mikrofalowy z układem dwóch magnetronów o 8 łącznej mocy 1800 W, segmentowym rotorem . wysokociśnieniowy 10-pozycyjnym, systemem TAK bezpiecznego uwalniania nadmiaru ciśnienia; maksymalne ciśnienie pracy: 100 bar (1500 psi); maksymalna temperatura pracy: 300°C, czujnikami temperatury i ciśnienia. Kompletem naczyń kwarcowych. 1.2.2. WYMAGANIA DODATKOWE Lp. Nazwa Opis 1 Szkolenie (min. 3 dni) w zakresie obsługi przyrządu, . urządzeń dodatkowych i pakietów oprogramowania w TAK 2 . TAK 3 . miejscu użytkowania aparatury w terminie uzgodnionym przez obie strony (dla min. 2 osób) Szkolenie (min. 5 dni) aplikacyjne w zakresie zaawansowanej obsługi mikroskopu i użytkowania oprogramowania w miejscu użytkowania aparatury w terminie uzgodnionym przez obie strony (dla min. 2 osób) Instrukcja obsługi i dokumentacja techniczna w języku polskim. 4 Zestaw części zużywających się i akcesoriów do pracy . przez co najmniej 24 miesiące – w tym zapasowy emiter działa elektronowego, który zostanie dostarczony po zużyciu pierwotnie zainstalowanego. 5 Czas reakcji serwisu nie dłuższy niż 48 godzin1 TAK TAK TAK . 1 Czas reakcji serwisu jest to okres czasu, jaki upływa od chwili zgłoszenia awarii do momentu przyjazdu serwisanta do miejsca zainstalowania urządzenia. Dotyczy to sytuacji, w której niemożliwe jest usunięcie awarii (usterki) na drodze konsultacji telefonicznych Lp. Nazwa Opis 6 Okres pełnej gwarancji zarówno na całe urządzenie . minimum 24 miesiące 2. PARAMETRY TRANSPORTOWO – INSTALACYJNE Koszt transportu, instalacji i uruchomienia urządzenia ponosi dostawca. Odbiór urządzenia nastąpi w oparciu o przeprowadzone badania i potwierdzenie parametrów specyfikacji. 3. TERMIN WYKONANIA Czas realizacji dostawy urządzenia: –6 miesięcy od dnia podpisania umowy.
