badanie p tli histerezy e08 - PB Wydział Elektryczny

Politechnika Białostocka
Wydział Elektryczny
Katedra Elektrotechniki Teoretycznej i Metrologii
Instrukcja do zaj
laboratoryjnych
BADANIE P TLI HISTEREZY
Numer wiczenia
E08
Autorzy:
dr in . Anna Maria Białostocka, mgr in . Adam Id kowski
Białystok 2009
Spis tre ci
1.
Wła ciwo ci materiałów magnetycznych - wprowadzenie
teoretyczne ...................................................................................................3
1.1.
1.2.
Materiały magnetycznie mi kkie............................................................5
Materiały magnetycznie twarde..............................................................7
2.
Pomiar p tli histerezy metod oscyloskopow .........................................7
3.
Przebieg wiczenia ....................................................................................10
4.
Wymagania BHP.......................................................................................12
5.
Opracowanie wyników .............................................................................12
6.
Pytania kontrolne i zagadnienia ..............................................................13
7.
Literatura...................................................................................................13
_____________
Materiały dydaktyczne przeznaczone dla studentów Wydziału Elektrycznego PB.
© Wydział Elektryczny, Politechnika Białostocka, 2009
Wszelkie prawa zastrze one. adna cz
tej publikacji nie mo e by kopiowana i
odtwarzana w jakiejkolwiek formie i przy u yciu jakichkolwiek rodków bez zgody
posiadacza praw autorskich.
ę
ś
ć
ć
ś
2
1. Wła ciwo ci materiałów magnetycznych wprowadzenie teoretyczne
Materiały magnetyczne słu
do wykonywania rdzeni, magnesów,
magnetowodów w maszynach elektrycznych, transformatorach, dławikach i
ró nych aparatach elektrycznych. Na etapie projektowania tych urz dze d y
si do uzyskania du ego strumienia magnetycznego przy małym zu yciu
materiałów i małych stratach energii zwi zanej z wytworzeniem strumienia. W
tym celu wykorzystuje si konstrukcje, w których strumie magnetyczny
zamyka si
w głównej mierze w
rodowisku ferromagnetycznym.
Charakteryzuje si ono bardzo du przenikalno ci magnetyczn wzgl dn - r
(setki i tysi ce razy wi ksz od przenikalno ci powietrza), w odró nieniu od
materiałów dia- i paramagnetycznych, dla których warto ci r s bliskie jedno ci
i nie zale od warto ci nat enia pola magnetycznego. Z poni szej zale no ci
B=µ H
(1)
gdzie: µ = µ o ⋅ µ r ;
H 
;
m
µ o = 4π ⋅10 −7 
µr
- przenikalno
magnetyczna wzgl dna materiału
wynika relacja pomi dzy wektorem indukcji magnetycznej a wektorem
nat enia pola magnetycznego. Materiały diamagnetyczne i paramagnetyczne
charakteryzuj si liniow zale no ci (1), co potwierdza Rys.1.
T
B
paramagnetyki
1,5
pró nia
1,25
1,0
0,75
0,5
diamagnetyki
H
0,25
2 105
6 105
10 105
A/m
Rys.1. Zale no pomi dzy indukcj magnetyczn B a nat eniem pola
magnetycznego H dla diamagnetyków i paramagnetyków.
3
Nieliniowo
charakterystyki
B = f (H )
(Rys.1.)
materiałów
ferromagnetycznych umo liwia powstawanie o rz d wi kszych indukcji
magnetycznych w polach o 3-4 rz dy wielko ci mniejszych ni w przypadku
innych materiałów magnetycznych. Ma to bezpo redni zwi zek z wi ksz
zdolno ci do skupiania pola magnetycznego przez ferromagnetyki (Rys.2.).
B
Bn
3
2
1
0
Hn
H
Rys.2. Krzywa pierwotnego magnesowania ferromagnetyka.
Ferromagnetyki s materiałami wykazuj cymi du e zdolno ci do
magnesowania si w zewn trznych polach magnetycznych, nale do nich m.in.
elazo, kobalt, nikiel i ich stopy, a tak e stopy manganu z cyn , niklu z
aluminium itp. Cech charakterystyczn ich budowy jest struktura krystaliczna,
a dokładniej obecno
grup atomów sieci krystalicznej o ró nych (ale
jednakowych w obr bie ka dej grupy) kierunkach magnesowania. Obszary
wyst powania tych grup nosz nazw domen magnetycznych. Domeny mog
zmienia swoje kształty (rozrasta si lub kurczy ) oraz kierunki magnesowania.
Zasadnicz przyczyn tego zjawiska s cztery charakterystyczne cz ci na
krzywej magnesowania pierwotnego ferromagnetyku (Rys.2.), a mianowicie:
• odcinek 0-1, zwany dolnym zagi ciem charakterystyki, na którym
przenikalno magnetyczna ro nie,
• odcinek 1-2, b d cy w przybli eniu odcinkiem prostoliniowym o nachyleniu
≈ const,
• odcinek 2-3, zwany górnym zagi ciem charakterystyki, na którym maleje
do 0 w miar jak zbli amy si do punktu 3,
• odcinek powy ej punktu 3, b d cy obszarem nasycenia; na tym odcinku
krzywa ma stałe nachylenie odpowiadaj ce = 0 i dalszy wzrost nat enia
pola H powoduje nieznaczny tylko przyrost indukcji B wg wzoru
B = const + 0H.
Je li po osi gni ciu maksymalnej warto ci indukcji zwanej indukcj
nasycenia (Bn) b dziemy zmniejsza warto nat enia pola magnetycznego, to
4
charakterystyka B = f (H ) b dzie przebiegała po krzywej zwanej p tl histerezy
magnetycznej – Rys.3.
Odcinek znajduj cy si pomi dzy punktami Br i –Hk to tak zwana krzywa
odmagnesowania, która charakteryzuje dany ferromagnetyk. Wielko
Br
(odcinek 0A = 0A′) zwana remanencj (pozostało ci ) magnetyczn stanowi
warto indukcji magnetycznej ferromagnetyku pozostał po namagnesowaniu
go polem o warto ci nat enia równej Hn i pó niejszym zmniejszeniu tej
warto ci do zera. Im wi ksza warto remanencji, tym lepsze wła ciwo ci
magnetyczne posiada ferromagnetyk. Wielko Hk (odcinek 0C′ = 0C) nazywa
si koercj i jest to warto nat enia pola magnetycznego (o kierunku
przeciwnym do kierunku pola magnesuj cego) konieczna do usuni cia
remanencji (rozmagnesowania) ferromagnetyka. W zale no ci od amplitudy
nat enia pola magnetycznego p tla mo e przybiera ró ne kształty.
Przemagnesowanie ferromagnetyka w granicach –Hn ÷ Hn obejmuje pole
najwi ksze z mo liwych (zwi kszenie nat enia pola magnetycznego nie
powoduje zmiany kształtu p tli) i nosi nazw p tli granicznej. Warto koercji
stanowi kryterium podziału ferromagnetyków na materiały magnetycznie
mi kkie i magnetycznie twarde.
B
Bn
Br
–Hn
C
–Hk
A
0
C′
Hn H
A′
–Bn
Rys.3. P tla histerezy magnetycznej po umieszczeniu próbki
w zmiennym polu magnetycznym.
1.1. Materiały magnetycznie mi kkie
Charakteryzuj si w sk p tl histerezy, a wi c mał koercj i
niewielkimi stratami histerezowymi. Straty mocy wywołane histerez zale od
składu chemicznego blachy (ferromagnetyka) oraz zastosowanej przy jej
5
produkcji obróbki termicznej (wy arzanie) i mechanicznej
walcowania). Powy sze straty okre la empiryczny wzór Steinmetza:
Ph = σ h ⋅ f ⋅ Bmn
(sposobu
(2)
gdzie: Bm – warto maksymalna indukcji;
f
– cz stotliwo ;
σh – stała zale na od składu chemicznego i obróbki
( 1 ⋅ 10 −4 ≤ σ h ≤ 5 ⋅ 10 −4 );
n – wykładnik pot gi zale ny od warto ci Bm (n=1.6 dla Bm ≤ 1T, n=2
dla Bm > 1T).
Do wiadczalnego okre lenia stratno ci blach dokonuje si aparatem
Epsteina. Materiały magnetycznie mi kkie stosowane s jako rdzenie dławików,
przeka ników, elektromagnesów i maszyn elektrycznych. Do grupy tej nale
mi dzy innymi: stal krzemowa o zawarto ci 3,5 ÷4 % krzemu (blacha
transformatorowa lub blacha twornikowa), permaloje (stopy niklu z elazem) i
niektóre ferryty (zwi zki tlenku elaza z tlenkami metali dwuwarto ciowych:
niklowo-cynkowe,
niklowo-cynkowo-kadmowe,
manganowo-cynkowe).
Wła ciwo ci magnetyczne i wymiary geometryczne materiałów magnetycznie
mi kkich s wzajemnie powi zane ze sob . Zale no ci te znane s pod nazw
zjawiska Joule’a i zjawiska Villariego.
• Zjawisko Joule’a polega na zmianie wymiarów geometrycznych pod
wpływem przyło onego pola magnetycznego i nosi nazw magnetostrykcji.
Zmiana wymiarów ferromagnetyku w procesie magnesowania mo e mie
charakter liniowy albo obj to ciowy. Magnetostrykcja liniowa (zmiana
wymiarów) mo e by dodatnia – magnesowany element wydłu a si , albo
ujemna – magnesowany element kurczy si . Magnetostrykcja obj to ciowa
polega na równoczesnej i jednakowej zmianie wszystkich wymiarów –
zmianie obj to ci badanej próbki (kurczenie si lub p cznienie).
• Zjawisko Villariego polega na zmianie stanu magnetycznego ferromagnetyku
pod wpływem napr e wywołanych działaniem sił zewn trznych i nosi
nazw magnetospr ysto ci. W trakcie trwania tego zjawiska ta sama
warto nat enia pola magnetycznego powoduje zmian warto ci indukcji
magnetycznej ferromagnetyku pod wpływem napr e . Zjawisko
magnetospr yste mo e by wykorzystywane w budowie przetworników sił i
napr e .
Obecnie coraz wi cej uwagi po wi ca si materiałom magnetycznie
mi kkim tak zwanym szkłom metalicznym. S to materiały amorficzne
(bezpostaciowe), otrzymuje si je poprzez bardzo szybkie schładzanie ciekłego
stopu z pomini ciem fazy krystalizacji. Stopy amorficzne pozwalaj na
6
czterokrotne zmniejszenie strat energetycznych w porównaniu ze stratami
wyst puj cymi w ferrytach, a jest to spowodowane wyj tkowo w sk p tl
histerezy. Produkuje si druty amorficzne o rednicach włókien 15÷125 m i
ta my o grubo ci 0,01÷0,1 mm. Z ta m wycina si za pomoc wykrojników
dane kształty rdzeni.
1.2. Materiały magnetycznie twarde
Charakteryzuj si szerok p tl histerezy, a wi c du warto ci koercji.
Stosowane s do budowy magnesów trwałych. Do grupy tej nale mi dzy
innymi: stal chromowa, wolframowa i wolframowo-chromowa, stopy
aluminium, kobaltu, niklu i krzemu, stopy z udziałem innych ferromagnetyków,
a tak e inne rodzaje ferrytów (strontowe i barowe). Dla magnesów trwałych
bardzo istotna jest g sto obj to ciowa energii pola magnetycznego odniesiona
do jednostki obj to ci, a warto tej energii zale y od punktu pracy na krzywej
odmagnesowania materiału ferromagnetycznego.
Materiały najnowszej (drugiej) generacji – magnesy ziem rzadkich posiadaj o wiele lepsze wła ciwo ci od materiałów magnetycznie twardych.
Zawieraj one zwi zki mi dzymetaliczne pierwiastków ziem rzadkich
(lantanowców) i ferromagnetyków, a nale do nich mi dzy innymi zwi zki
samaru z kobaltem oraz neodymu z elazem i borem. Samar i neodym
charakteryzuj si du g sto ci obj to ciow energii i du remanencj (~ 1,5
T). Wysokie koszty wytwarzania magnesów ziem rzadkich s po cz ci
kompensowane znacznie lepszymi parametrami, mniejsz mas i prostsz
konstrukcj wytwarzanych magnesów. Elementy indukcyjno ciowe z rdzeniami
wykonanymi z magnesów ziem rzadkich znalazły zastosowanie do budowy
silników i mikrosilników pr du stałego, bezszczotkowych maszyn pr du stałego,
wielofazowych silników synchronicznych i niektórych typów silników
skokowych. Magnesy te wykorzystywane s równie do budowy generatorów
rednich i małych mocy (dla elektrowni wiatrowych i na pokładach jachtów),
przetworników elektroakustycznych (gło ników, słuchawek, megafonów,
mikrofonów najnowszej generacji), a tak e w automatyce i robotyce (w
czujnikach i przetwornikach pomiarowych, detektorach ruchu, chwytakach i
manipulatorach).
2. Pomiar p tli histerezy metod oscyloskopow
Ze wzgl du na niejednorodno pola magnetycznego wewn trz blach nie
mo na wyznaczy jednorodnej rzeczywistej p tli histerezy. W praktyce mo liwa
jest do wyznaczenia dynamiczna p tla histerezy, która jest zale no ci mi dzy
7
redni warto ci indukcji w przekroju ferromagnetyka, a warto ci nat enia
pola na powierzchni blach.
Metoda oscylograficzna jest najprostsz metod wyznaczania dynamicznej
p tli histerezy materiałów ferromagnetycznych. Pozwala ona na bezpo redni
obserwacj przebiegu p tli histerezy, która jest wykre lana w postaci ci głej
krzywej bezpo rednio na ekranie oscyloskopu. Przeprowadzenie pomiarów
wła ciwo ci materiałów ferromagnetycznych – p tli histerezy - zwi zane jest z
przygotowaniem odpowiedniej próbki, wykonanej z badanego materiału. Próbki
wykonuje si najcz ciej w kształcie toroidu o przekroju prostok tnym, zło one
s z kołowych wykrojów albo zwini tej ta my lub wykonanej z pełnego
materiału. Na wykonanej w ten sposób próbce umieszcza si dwa izolowane od
siebie uzwojenia. Aby mo na było otrzyma obraz p tli histerezy na ekranie
oscyloskopu na płytki odchylania poziomego oscyloskopu nale y dostarczy
napi cie uH(t) proporcjonalne do chwilowej warto ci nat enia pola
magnetycznego – H(t). Do płytek odchylania pionowego oscyloskopu
dostarczamy napi cie uB(t) proporcjonalne do chwilowej warto ci indukcji
magnetycznej – B(t) w danej próbce.
Zgodnie ze wzorem
H (t ) =
zm
⋅ im (t )
l
(3)
gdzie: im(t) – nat enie pr du magnesuj cego;
l – długo cewki pier cieniowej [m];
zm – liczba zwojów po stronie pierwotnej;
na płytki odchylania poziomego podajemy spadek napi cia na niewielkim
bezindukcyjnym oporniku o rezystancji R1 wł czonym w szereg z uzwojeniem
magnesuj cym próbki
u H (t ) = R1 ⋅ im (t ) =
R1 ⋅ l
⋅ H (t ) = k H ⋅ H (t )
zm
(4)
R ⋅l  V 
1
gdzie: k H = z  A / m  - współczynnik proporcjonalno ci.

m 
Zakładamy, e rezystancja wej ciowa wzmacniacza X oscyloskopu jest du o
wi ksza od rezystancji R1.
Płytki odchylania pionowego oscyloskopu przył czamy do napi cia na wyj ciu
układu całkuj cego wł czonego w uzwojenie wtórne próbki. W uzwojeniu
wtórnym indukuje si napi cie uP(t)
u P (t ) = − z P ⋅
d
d
Φ (t ) = − z P ⋅ s ⋅ B (t )
dt
dt
8
(5)
gdzie: zp – liczba zwojów po stronie wtórnej;
s – pole przekroju poprzecznego próbki [m2].
Napi cie to jest podawane na wej cie układu całkuj cego. Na wyj ciu otrzymuje
si napi cie uB(t)
u B (t ) =
u P (t )dt =
τ∫
1
z P ⋅s
τ
⋅ B (t ) = k B ⋅ B (t )
(6)
gdzie: τ = R2 ⋅ C – stała czasowa układu całkuj cego;
z ⋅ s V 
k B = P   - współczynnik proporcjonalno ci.
τ T 
Napi cia uH(t) i uB(t) podajemy poprzez wzmacniacze X i Y na płytki
odchylania poziomego i pionowego oscyloskopu. Wymiary otrzymanego obrazu
p tli histerezy trzeba wyskalowa w jednostkach indukcji i nat enia pola
magnetycznego za pomoc odpowiednich współczynników proporcjonalno ci:
1
kH ⋅ Sx
1
KB =
kB ⋅ S y
KH =
 A/ m
 cm 


(7)
[T / cm]
(8)
ax
[cm / V ] - czuło wej cia X oscyloskopu;
Ux
ay
[cm / V ] - czuło wyj cia Y oscyloskopu.
Sy =
Uy
gdzie: S x =
St d otrzymujemy wielko ci nat enia i indukcji pola magnetycznego:
H c (t ) = K H (t ) ⋅ a H ,
Br (t ) = K B ⋅ a B
(9)
(10)
gdzie: aH , aB - współrz dne pozioma i pionowa wyznaczonego punktu obrazu w
cm.
Dokładno metody oscylograficznej zale y w poka nym stopniu od
uchybów wnoszonych przez układ całkuj cy i oscyloskop.
Dokładno
całkowania układu całkuj cego zale y od stosunku
1
rezystancji R2 do reaktancji ωC , tj. od warto ci ω ⋅ R2 ⋅ C = ω ⋅ τ . Zazwyczaj
o mniejszej warto ci powoduje
przyjmuje si ω ⋅ τ = 100 ÷ 600 . Przyj cie
zwi kszenie uchybu całkowania, za przyj cie wi kszej warto ci prowadzi do
9
nadmiernego zmniejszenia napi cia na wyj ciu układu, a tym samym zwi ksza
podatno układu na wpływ napi paso ytniczych. Układ całkuj cy powinien
mie bardzo du
impedancj wej ciow Zwej=R2, aby zminimalizowa
obci enie uzwojenia wtórnego. Nadmierne obci enie uzwojenia wtórnego
objawi si poszerzeniem obrazu p tli histerezy, co spowoduje uchyb przy
okre laniu nat enia koercji oraz kształtu i powierzchni histerezy.
Oscyloskop wprowadza nast puj ce zniekształcenia obrazu p tli histerezy:
a. przesuni cia fazowe – s wprowadzane przez wzmacniacze „X” i
„Y” oscyloskopu jako zmian fazy napi cia na wyj ciu
wzmacniacza, zmiana ta jest ró na dla ró nych cz stotliwo ci,
dlatego te powoduje zmian kształtu krzywej napi cia dla
zawarto ci w niej wy szych harmonicznych;
b. nieliniowo charakterystyki wzmacniania wzmacniaczy „X” i „Y”
– wzmocnienie w przedziale amplitud napi uH(t) i uB(t) nie jest
warto ci stał .
3. Przebieg wiczenia
1. Wyznaczy warto
redniej drogi strumienia magnetycznego l w rdzeniu
wykonanym badanego materiału ferromagnetycznego oraz powierzchni jego
przekroju poprzecznego s.
2. Zestawi układ pomiarowy według poni szego schematu – Rys.4.
UWAGA: oscyloskop powinien by przygotowany do pracy w trybie X-Y.
W tym celu nale y przeł czy pokr tło TIME/DIV na pozycj X-Y. Na
wej cie CH-B nale y poda sygnał odchylania poziomego (X), a na wej cie
CH-A sygnał odchylania pionowego (Y).
3. Wł czy oscyloskop i za pomoc pokr teł przesuwu plamki w kierunku osi x
i y oscyloskopu ustawi plamk dokładnie w rodku ekranu, w punkcie
przeci cia si osi jego układu współrz dnych.
4. Pokr tło autotransformatora AT ustawi w skrajnym lewym poło eniu.
Wł czy zasilanie układu pomiarowego. Rozmagnesowa próbk badanego
ferromagnetyka. W tym celu nale y dobra za pomoc autotransformatora
warto
napi cia tak, aby przy odpowiednio dobranych czuło ciach
wzmacniacza X i Y uzyska na ekranie oscyloskopu p tl histerezy.
Nast pnie nale y wolno zmniejsza przy pomocy autotransformatora
napi cie do zera.
5. Przystosowa oscyloskop do pomiaru napi . W tym celu potencjometry
płynnej regulacji czuło ci wzmocnienia kanału X i Y nale y przekr ci na
pozycj CAL (do oporu zgodnie z ruchem wskazówek zegara).
Nast pnie ustawi za pomoc autotransformatora warto napi cia, przy
którym na ekranie oscyloskopu otrzymamy p tl histerezy dostatecznie
du ych rozmiarów. Mo na te korzysta ze skokowej regulacji czuło ci
10
kanałów A i B. P tla histerezy powinna zajmowa cał powierzchni
pomiarow oscyloskopu.
6. Odczyta długo ci odcinków p tli histerezy odpowiadaj ce długo ci
nat enia koercji aH, indukcji remanencji aB oraz indukcji nasycenia
badanego ferromagnetyka Br. Odnotowa czuło ci Sx i Sy kanałów X i Y
oscyloskopu. Odczyty powtórzy przy zmniejszonym napi ciu (trzy
pomiary).
7. Rozmontowa układ do badania p tli histerezy.
8. Obliczy warto ci nat enia koercji Hc i indukcji remanencji Br z zale no ci
przedstawionych w instrukcji. Wyniki umie ci w tabeli 1.
OSCYLOSKOP
OSCYLOSKOP
Y
X
P
AT
A
~230
220V
50 Hz
R1
V
zm
zp
R2
C
Rys.4. Schemat układu pomiarowego
Oznaczenia:
oscyloskop cyfrowy;
P – próbka materiału magnetycznego zło ona z wykrojów o przekroju
prostok tnym;
V – miernik uniwersalny (woltomierz);
A – miernik uniwersalny (amperomierz);
AT – autotransformator;
R1 = 100 – rezystancja wł czona w szereg z uzwojeniem pierwotnym;
R2 = 2 M – rezystancja układu całkuj cego wł czona do uzwojenia wtórnego;
C = 0,68 F – pojemno układu całkuj cego wł czona do uzwojenia
wtórnego.
Tabela 1.
Lp.
Hc
A/cm
Br
cm
T/cm
1.
2.
3.
4.
11
cm
4. Wymagania BHP
Warunkiem przyst pienia do praktycznej realizacji wiczenia jest
zapoznanie si z instrukcj BHP i instrukcj przeciw po arow oraz
przestrzeganie zasad w nich zawartych. Wybrane urz dzenia dost pne na
stanowisku laboratoryjnym mog posiada instrukcje stanowiskowe. Przed
rozpocz ciem pracy nale y zapozna si z instrukcjami stanowiskowymi
wskazanymi przez prowadz cego.
W trakcie zaj laboratoryjnych nale y przestrzega nast puj cych zasad.
♦
♦
♦
♦
♦
♦
♦
♦
♦
♦
Sprawdzi , czy urz dzenia dost pne na stanowisku laboratoryjnym s w
stanie kompletnym, nie wskazuj cym na fizyczne uszkodzenie.
Sprawdzi prawidłowo poł cze urz dze .
Zał czenie napi cia do układu pomiarowego mo e si odbywa po
wyra eniu zgody przez prowadz cego.
Przyrz dy pomiarowe nale y ustawi w sposób zapewniaj cy stał
obserwacj , bez konieczno ci nachylania si nad innymi elementami układu
znajduj cymi si pod napi ciem.
Zabronione jest dokonywanie jakichkolwiek przeł cze oraz wymiana
elementów składowych stanowiska pod napi ciem.
Zmiana konfiguracji stanowiska i poł cze w badanym układzie mo e si
odbywa wył cznie w porozumieniu z prowadz cym zaj cia.
W przypadku zaniku napi cia zasilaj cego nale y niezwłocznie wył czy
wszystkie urz dzenia.
Stwierdzone wszelkie braki w wyposa eniu stanowiska oraz
nieprawidłowo ci w funkcjonowaniu sprz tu nale y przekazywa
prowadz cemu zaj cia.
Zabrania si samodzielnego wł czania, manipulowania i korzystania z
urz dze nie nale cych do danego wiczenia.
W przypadku wyst pienia pora enia pr dem elektrycznym nale y
niezwłocznie wył czy zasilanie stanowisk laboratoryjnych za pomoc
wył cznika bezpiecze stwa, dost pnego na ka dej tablicy rozdzielczej w
laboratorium. Przed odł czeniem napi cia nie dotyka pora onego.
5. Opracowanie wyników
1) Wydrukowa przy pomocy plotera kolejne przebiegi p tli histerezy.
2) Napisa wnioski po przeanalizowaniu otrzymanych przebiegów!
12
6. Pytania kontrolne i zagadnienia
1.
2.
3.
4.
5.
6.
7.
8.
9.
10.
Charakterystyka i podział materiałów magnetycznych.
Nat enie pola magnetycznego i indukcja magnetyczna w powietrzu i stali.
Budowa wewn trzna ferromagnetyków.
Krzywa magnesowania pierwotnego ferromagnetyku.
P tla histerezy w materiałach magnetycznie mi kkich i twardych.
Zjawisko Joule’a i zjawisko Villariego.
Szkła metaliczne.
Magnesy ziem rzadkich.
Sposób wyznaczania p tli histerezy za pomoc oscyloskopu.
Dokładno metody oscylograficznej.
7. Literatura
[1]. Janiczek R.: Elektryczne miernictwo przemysłowe. Wydawnictwo
Politechniki Cz stochowskiej, Cz stochowa 1994.
[2]. Rawa H.: Elektryczno i magnetyzm w technice. Wydawnictwo Naukowe
PWN, Warszawa 1994.
[3]. Soi ski M.: Materiały magnetyczne w technice. Centralny O rodek
Szkolenia i Wydawnictw SEP, Warszawa 2001.
[4]. Syrzycki A.: Elementy i metody analizy obwodów elektrycznych.
Wydawnictwa Politechniki Warszawskiej, Warszaw 2000.
13