Pomiar parametrów sygnałów sieci elektroenergetycznej
Transkrypt
Pomiar parametrów sygnałów sieci elektroenergetycznej
Studia Podyplomowe EFEKTYWNE UŻYTKOWANIE ENERGII ELEKTRYCZNEJ w ramach projektu Śląsko-Małopolskie Centrum Kompetencji Zarządzania Energią Pomiar parametrów sygnałów sieci elektroenergetycznej dr inż. Dariusz Borkowski 1/31 1 Cyfrowe pomiary parametrów sygnałów 2 Pomiary parametrów sygnałów w dziedzinie częstotliwości 3 Błędy w analizie częstotliwościowej sygnałów 2/31 Cyfrowe pomiary parametrów sygnałów SYGNAŁ ANALOGOWY Przetwornik A/C: układ próbkującopamiętający, kwantyzator, próbkowanie,koder SYGNAŁ CYFROWY Przetworniki pomiarowe: napięcia, ciśnienia, temperatury, pola magnetycznego, prądu, itp. na napięcie, prąd, częstotliwość, itp. (np. przekładniki napięciowe i prądowe) ANALOGOWA WIELKOŚĆ MIERZONA SYGNAŁ ANALOGOWY Analogowo–cyfrowy tor pomiarowy Układy kondycjonowania: separacja galwaniczna (optoizolatory, separatory pojemnościowe), dopasowanie zakresu (wzmacniacze operacyjne, dzielniki napięcia), dopasowanie pasma (filtry antyaliasingowe lub pasmowe) Cyfrowy układ przetwarzania: cyfrowa realizacja definicji pomiaru wielkości złożonych w CPU, DSP, FPGA (np. wartość skuteczna, THD) WYNIK POMIARU W POSTACI CYFROWEJ Bloki funkcjonalne typowego toru przetwarzania analogowo–cyfrowego. 3/31 Cyfrowe pomiary parametrów sygnałów Operacje przetwarzania analogowo–cyfrowego 1 próbkowanie (dyskretyzacja w dziedzinie czasu) zapamiętywanie chwilowych wartości wielkości mierzonej w dyskretnych chwilach czasu nTS , gdzie n = 1, 2, . . . , N, TS = 1 FS , gdzie FS jest częstotliwością próbkowania 2 kwantowanie (dyskretyzacja w dziedzinie amplitudy) zamiana wartości ciągłej wielkości mierzonej na jedną ze skończonej liczby dyskretnych wartości (np. przetwornik 12-to bitowy daje 212 = 4096 możliwych wartości) 3 kodowanie przekształcenie wyniku przetwarzania do konkretnego kodu liczbowego (np. liczby całkowite — NB, U2; liczby niecałkowite — float, double, Q15) 4/31 Cyfrowe pomiary parametrów sygnałów Błędy związane z rozdzielczością przetworników A/C (kwantowaniem) Z operacją kwantowania wartości X wiąże się tzw. błąd kwantowania ∆K zależny od rozdzielczości przetwornika A/C. obecne przetworniki A/C mają co najmniej 16 bitów 16 bitów to 216 = 65536 możliwych wartości, więc błędy kwantowania są małe; 12 i mniej bitów mogą posiadać proste cyfrowe oscyloskopy i multimetry. względny błąd kwantowania δK = ∆K X jest stały rośnie silnie przy małych wartościach X wzmocnienie toru przed przetwornikiem A/C powinno być dobrane tak, by wykorzystać maksymalnie zakres napięć wejściowych przetwornika, a mimo to pomiar bardzo małych wartości X może być obarczony znacznym błędem! pomiary różnicowe, a w szczególności dzielenie przez różnicę wartości jest obarczone ryzykiem katastrofalnego błędu 1 ; jeśli X1 ≈ X2 to może X1 −X2 1 1 X20 a wtedy X 0 −X 0 = 0 = ∞ rozważmy wyrażenie kwantowaniu X10 = 1 2 5/31 się zdarzyć, że po Cyfrowe pomiary parametrów sygnałów Przykład błędów kwantowania 1 sygnal oryginalny sprobkowany, przed kwantowaniem sprobkowany, po kwantowaniu 0.8 0.6 0.4 0.2 0 −0.2 −0.4 −0.6 −0.8 −1 0 0.002 0.004 0.006 0.008 0.01 t [s] 0.012 0.014 0.016 0.018 Próbkowanie i kwantowanie sygnału 50 Hz, FS = 2 kHz, przetwornik 6 bitów. 6/31 0.02 Cyfrowe pomiary parametrów sygnałów Twierdzenie o próbkowaniu Aby poprawnie odtworzyć sygnał oryginalny z jego próbek, próbkowanie musi się odbywać z częstotliwością FS większą niż 2fg , gdzie fg to najwyższa częstotliwość w sygnale F S > 2 · fg Fs = 60 , f1 = 50 Hz, M = 1.2 Fs = 100 , f1 = 50 Hz, M = 2 Fs = 150 , f1 = 50 Hz, M = 3 1 1 1 0.7071 0.7071 0.7071 0 0 0 −0.7071 −0.7071 −0.7071 −1 −1 0 0.02 0.04 0.06 czas [s] 0.08 0.1 0 0.02 0.04 0.06 czas [s] 0.08 0.1 −1 0 0.02 Przykłady niespełnienia twierdzenia o próbkowaniu. 7/31 0.04 0.06 czas [s] 0.08 0.1 Cyfrowe pomiary parametrów sygnałów Próbkowanie synchroniczne i niesynchroniczne Próbkowanie synchroniczne — częstotliwość próbkowania FS jest całkowitą wielokrotnością M częstotliwości podstawowej f1 sygnału F S = M · f1 Fs = 400 , f1 = 51 Hz, M = 7.8431 , M∈N Fs = 400 , f1 = 50 Hz, M = 8 Fs = 400 , f1 = 49 Hz, M = 8.1633 1 1 1 0.7071 0.7071 0.7071 0 0 0 −0.7071 −1 −0.7071 0 0.01 0.02 czas [s] 0.03 0.04 −1 −0.7071 0 0.01 0.02 czas [s] 0.03 0.04 −1 0 0.01 0.02 czas [s] Przykład próbkowania niesynchronicznego i synchronicznego. 8/31 0.03 0.04 Cyfrowe pomiary parametrów sygnałów Ile próbek użyć do pomiaru czyli cyfrowe realizacje definicji miar miara | definicja wartość skuteczna U sygnału okresowego u(t) o okresie T definicja v (analogowa) u ZT u u1 u(t)2 dt U=t T realizacja (cyfrowa) v u N u1 X U=t u(n)2 N n=1 0 T moc czynna P dla okresowych napięcia i prądu u(t), i(t) P= 1 T Z u(t)i(t)dt 0 P= 1 N N X u(n)i(n) n=1 Ile powinno wynosić N ? N musi być całkowite (wynika z definicji) N powinno być liczbą próbek w okresie sygnału T (lub całkowita jej wielokrotnością) Wniosek: próbkowanie musi być synchroniczne, aby uniknąć błędów 9/31 Cyfrowe pomiary parametrów sygnałów Przykład błędów w zależności od długości okna pomiarowego Czy synchroniczne próbkowanie wystarczy? Nie wystarczy! N musi być całkowitą wielokrotnością M, gdzie M = FS /f1 ∈ N Fs = 400 , f1 = 55 , M = 7.2727 , N = 7 , P = 0.52182 1 0.5 Fs = 400 , f1 = 50 , M = 8 , N = 7 , P = 0.56011 1 0.5 0 −0.01 0 0.01 0.02 0.03 czas [s] Fs = 400 , f1 = 55 , M = 7.2727 , N = 8 , P = 0.46513 1 0.5 0 −0.01 0 0.01 0.02 0.03 czas [s] Fs = 400 , f1 = 50 , M = 8 , N = 8 , P = 0.5 1 0.5 0 −0.01 0 0.01 czas [s] 0.02 0.03 0 −0.01 0 0.01 czas [s] 0.02 Próbkowanie niesynchroniczne (lewa), synchroniczne (prawa). 10/31 0.03 Cyfrowe pomiary parametrów sygnałów Dlaczego synchronizacja próbkowania jest takie ważna? Częstotliwość podstawowa systemu elektroenergetycznego prawie nigdy nie jest równa dokładnie 50 Hz. Częstotliwość podstawowa systemu elektroenergetycznego wciąż się zmienia, oscyluje wokół 50 Hz. Odchyłki od częstotliwości znamionowej z reguły są nie większe niż ±5 mHz podczas normalnej pracy. Odchyłki od częstotliwości znamionowej w stanach awaryjnych mogą być znacznie większe. 11/31 Cyfrowe pomiary parametrów sygnałów Przykład błędów pomiaru mocy czynnej pomiar mocy czynnej odbiornika 1 kW zasilanego napięciem o częstotliwości znamionowej i nieznamionowej. układ pomiarowy o przyjętej na sztywno częstotliwości próbkowania dobranej do częstotliwości znamionowej, czyli pomiar mocy co 1/50 s czyli co 200 ms, długość okna 200 ms 1004 P 1002 1000 998 996 0 1 2 3 4 5 t [s] 6 7 8 9 10 Zmierzona moc czynna dla napięcia: 50 Hz (niebieski), 50,1 Hz (czerwony). 12/31 1 Cyfrowe pomiary parametrów sygnałów 2 Pomiary parametrów sygnałów w dziedzinie częstotliwości 3 Błędy w analizie częstotliwościowej sygnałów 13/31 Pomiary parametrów sygnałów w dziedzinie częstotliwości Podstawowe określenia Sygnał okresowy x (t) o okresie T to sygnał, którego wartości powtarzają się co okres czyli x (t) = x (t + mT ), m ∈ Z. Częstotliwość podstawowa sygnału f1 = 1/T (ω1 = 2πf1 ) Częstotliwość harmoniczna fh — całkowita wielokrotność częstotliwości podstawowej f1 czyli fh = h · f1 , h ∈ N Dowolny sygnał okresowy można otrzymać przez sumowanie składowych sinusoidalnych o różnych amplitudach, fazach i częstotliwościach harmonicznych. Składowe sygnałów (okresowych i prawie okresowych) ze względu na częstotliwość: Podstawowa — składowa sinusoidalna o częstotliwości f = f1 Harmoniczna — składowa sinusoidalna o częstotliwości f = fh Interharmoniczna — składowa sinusoidalna o częstotliwości f > f1 ∨ f 6= fh Subharmoniczna — składowa sinusoidalna o częstotliwości f < f1 Przejściowa — składowa niesinusoidalna np. exp(−t/τ ) 14/31 Pomiary parametrów sygnałów w dziedzinie częstotliwości Do czego można wykorzystać wyniki analizy częstotliwościowej? Analiza częstotliwościowa sygnałów dostarcza istotnych informacji: pozwala na niezależne określanie mocy i wartości skutecznych dla pojedynczych harmonicznych pozwala określić q całkowite odkształcenie sygnałów PH np. THDU = h=2 Uh2 U1 pozwala określić udział pojedynczych składowych (harmonicznych lub interharmonicznych) w sygnale pozwala na wyznaczanie skutecznych na podstawie q wartości 1 PH 2 harmonicznych U = U0 + 2 h=1 Uh2 15/31 Pomiary parametrów sygnałów w dziedzinie częstotliwości Reprezentacja sygnałów okresowych w dziedzinie częstotliwości Ciągły sygnał okresowy x (t) o okresie T = f11 = 2π ω możemy przedstawić w postaci dyskretnego szeregu Fouriera: s(t) = gdzie Ak = 2 T RT P k (Ak cos (kωt) + Bk sin (kωt)) x (t) cos (kωt) dt Bk = 2 T 0 RT x (t) sin (kωt) dt k = 0, 1, 2, . . . 0 a sygnały prawie okresowe i nieokresowe możemy tym szeregiem przybliżyć. W przypadku pewnych sygnałów (np. prostokąt) szereg ten będzie nieskończony. N próbek (N = RM, R ∈ N) dyskretnego okresowego sygnału x (n) o okresie M = TTS = Ff1S możemy zapisać jako szereg Fouriera: s(n) = N−1 gdzie Ak = P n=0 PK −1 k=0 2π Ak cos k 2π N n + Bk sin k N n N−1 x (n) cos k 2π n , Bk = N P x (n) sin k 2π n , k = 0, 1, . . . , N − 1 N n=0 pod warunkiem spełnienia twierdzenia o próbkowaniu FS > 2fg . 16/31 Pomiary parametrów sygnałów w dziedzinie częstotliwości DFT — przejście do dziedziny częstotliwości dla sygnałów dyskretnych Zapisując współczynniki szeregu Fouriera w postaci zespolonej dostajemy wzór na dyskretną transformację Fouriera (DFT): N−1 X 2π n , k = 0, 1, . . . , N − 1 N n=0 Rozdzielczość częstotliwościowa widma DFT to odstęp pomiędzy sąsiednimi „prążkami” widma. Dla DFT o długości N i częstotliwości próbkowania FS wynosi ona ∆f = FNS . Xk = Ak + jBk = x (n) exp −jk Zespolony składnik Xk zawiera informacje o amplitudzie i fazie składowej |Xk | sin(2πfk nTS + φk ) o częstotliwości fk = k · ∆f . Amplituda tej składowej to |Xk | = q A2k + Bk2 Argument (faza) tej składowej to φk = arctan FFT to szybka implementacja DFT, daje dokładnie te same wyniki! 17/31 Bk Ak 1 Cyfrowe pomiary parametrów sygnałów 2 Pomiary parametrów sygnałów w dziedzinie częstotliwości 3 Błędy w analizie częstotliwościowej sygnałów 18/31 Błędy w analizie częstotliwościowej sygnałów Błędy analizy częstotliwościowej DFT W analizie DFT sygnałów okresowych najczęściej występują błędy: rozmycie widma (przeciek widma) — może wynikać z: braku synchronizacji próbkowania, źle dobranej liczby próbek poddawanych DFT, nieokresowości sygnału (składowe interharmoniczne, subharmoniczne, przejściowe), stosowania nieprostokątnych okien czasowych aliasing (nakładanie się widm) — może wynikać z: braku filtracji antyaliasingowej, zbyt słabego tłumienia w filtracji antyaliasingowej, źle dobranej częstotliwości granicznej w filtracji antyaliasingowej, 19/31 Błędy w analizie częstotliwościowej sygnałów Rozmycie widma DFT Rozmycie widma DFT polega na rozłożeniu energii związanej z pojedynczą składową sygnału pomiędzy wiele prążków widma DFT. Dzieje się tak, gdy częstotliwość składowej sinusoidalnej sygnału nie jest równa częstotliwości żadnego z prążków widma. Częstotliwości kolejnych prążków widma sygnału są dane wzorem fk = k · ∆f = k · FNS , k = 0, 1, . . . , N − 1 gdzie FS to częstotliwość próbkowania, N liczba próbek poddawanych DFT Przykład: DFT o długości N = 100 próbek sygnału sinusoidalnego o częstotliwości f1 = 55 Hz próbkowanego z częstotliwością FS = 1000 Hz. Rozdzielczość widma ∆f = 10 Hz, więc częstotliwość żadnego prążka nie jest równa f1 (najbliższe to 50 Hz i 60 Hz). Skutek: widmo jest rozmyte. 20/31 1 0 0 Widmo faktyczne Rozmyte widmo DFT 100 200 300 Częstotliwość [Hz] 400 500 Błędy w analizie częstotliwościowej sygnałów Mechanizm rozmycia widma DFT Mnożenie funkcji w dziedzinie czasu odpowiada splotowi widm tych N funkcji w dziedzinie częstotliwości x (t) · w (t) ⇐⇒ X (ω) W (ω) Wybór N próbek sygnału do DFT to mnożenie sygnału przez funkcję prostokątną w x(t), w(t) dziedzinie czasu, więc wynik DFT jest splotem widma okna i widma sygnału. 1 1 faktyczne widmo sygnalu widmo okna przesuniete do −f1 0.8 widmo okna przesuniete do +f1 0.6 suma przesunietych widm okien wynik DFT 0 0 0.05 t [s] 0.1 |Xw(f)| −1 xw(n) 1 0.2 0 0 −1 0 x(t), w(t) 0.4 0.05 t [s] 0.1 −200 −150 −100 −50 0 f [Hz] 50 150 200 1 faktyczne widmo sygnalu widmo okna przesuniete do −f1 0.8 widmo okna przesuniete do +f1 0.6 suma przesunietych widm okien wynik DFT 0 0 0.05 t [s] 0.1 1 |Xw(f)| −1 xw(n) 100 1 0.4 0.2 0 0 −1 0 0.05 t [s] 0.1 −200 −150 −100 −50 0 f [Hz] 50 100 Przyład DFT: N = 16, FS = 400 Hz, f1 = 50 Hz (góra), f1 = 48 Hz (dół). 21/31 150 200 Błędy w analizie częstotliwościowej sygnałów Przyczyny rozmycia widma W przypadku przyrządów próbkujących niesynchronicznie, ze stałą częstotliwością (zazwyczaj FS = M · f1N = M · 50 Hz) rozmycie widma najczęściej wynika ze faktu, że w systemie częstotliwość podstawowa różni się od znamionowej: f1 6= f1N W przypadku przyrządów próbkujących synchronicznie (FS = M · f1 ) rozmycie może się pojawić: w stanach dynamicznych systemu ze względu na obecność niesinusoidalnych składowych przejściowych (transienty) w stanie normalnym przy obecności interharmonicznych, o częstotliwościach różnych od częstotliwości prążków widma 22/31 Błędy w analizie częstotliwościowej sygnałów Sposoby redukcji rozmycia widma 1 synchroniczne próbkowanie: śledzenie częstotliwości podstawowej f1 i ustawianie FS = M · f1 2 synchroniczne repróbkowanie: programowa aproksymacja spróbkowanego sygnału i ponowne wyznaczenie jego próbek we właściwych miejscach, tak by na okres T przypadało dokładnie M próbek, nie redukuje rozmycia od składowych przejściowych i interharmonicznych 3 stosowanie nieprostokątnych okien czasowych: mnożenie próbek czasowych przez funkcję okna przed DFT, zmienia postać rozmycia na możliwą do przyjęcia t.j. zwiększa tłumienie szumu tła kosztem szerokości prążków Najlepsze efekty daje zastosowanie metody 1 (ew. 2) razem z metodą 3, przy znacznej rozdzielczości (małe ∆f ) widma uzupełnione o grupowanie harmonicznych. 23/31 Błędy w analizie częstotliwościowej sygnałów 1 0.5 0 −0.5 −1 0.2 t [s] 0.3 0.4 −100 1 0 0.5 −20 0 −0.5 0 f [Hz] 50 100 −40 −60 0.1 0.2 t [s] 0.3 0.4 −100 1 0.5 W(f) 1 0.5 0 −0.5 100 200 f [Hz] 300 −50 0 f [Hz] 50 0 200 400 f [Hz] 600 0 100 200 f [Hz] 300 0 200 400 f [Hz] 600 −50 −100 −150 100 1 Xw(f) 0 0 0 −80 −1 0 0.5 −0.5 −1 −1 0 0.1 0.2 t [s] 0.3 0.4 −100 0 0.5 −20 W(f) [dB] 1 0 −0.5 0 −50 0 f [Hz] 50 100 0 Xw(f) [dB] x(t), w(t) 0.5 0 −50 Xw(f) [dB] 0.1 W(f) [dB] w x (t) 0 w 0 −0.5 −1 x (t) 1 Xw(f) 1 0.5 W(f) x(t), w(t) Przykład wpływu kształtu okien czasowych na wyniki DFT −40 −60 −80 −1 0 0.1 0.2 t [s] 0.3 0.4 −100 −50 0 f [Hz] 50 100 −50 −100 −150 Sygnał f1 = 51 Hz, FS = 800 Hz, N = 160. Okno prostokątne (góra) i Hanna (dół). Sygnał i okno czasowe (lewa), widmo okna (środek), wynik DFT (prawa). 24/31 Błędy w analizie częstotliwościowej sygnałów Błędy rozmycia w DFT sygnałów poliharmonicznych f1 = const = 49,97 Hz f1 = var 0 (50 do 48 Hz, 1 Hz/s) 0 −40 Moduł widma [dB] Moduł widma [dB] −20 po repróbkowaniu −60 bez repróbkowania −80 −100 −20 −40 bez repróbkowania −60 po repróbkowaniu −80 −100 0 20 40 60 Rząd harmonicznej 80 0 20 40 60 Rząd harmonicznej 80 Sygnał symulowany: harmoniczne 1; 5; 59; 71 + interharmoniczna 33,17 + szum biały. Uśrednione wyniki 50-ciu DFT długości KM = 320 próbek, FSin = 8000 Hz. Amplituda [dB] 0 Bez repróbkowania Po repróbkowaniu −20 −40 −60 −80 −100 −120 0 10 20 30 40 50 RządHz, harmonicznej Sygnał rzeczywisty FS = 8000 M = 160, K = 10, ∆f = 5 Hz. 25/31 60 Błędy w analizie częstotliwościowej sygnałów Wpływ rozmycia widma na estymację impedancji harmonicznej 100 50 Po repróbkowaniu Bez repróbkowania 0 Moduł impedancji Wart. prawdziwe 100 Bez repróbkowania Po repróbkowaniu 50 0 100 0 Po repróbkowaniu 50 0 Bez repróbkowania −50 50 100 Rząd harmonicznej 0 Argument impedancji [o] 0 Argument impedancji [o] Wart. prawdziwe [Ω] Moduł impedancji [Ω] Odchyłki od częstotliwości znamionowej w systemie są zazwyczaj bardzo małe, więc rozmycie także. Czy zatem w praktyce rozmycie ma znaczenie? ∆U(f ) Tak, np. w estymacji impedancji harmonicznej systemu zasilającego Z (f ) = ∆I(f ) 50 100 Rząd harmonicznej Wart. prawdziwe 50 100 Rząd harmonicznej 100 Wart. prawdziwe Bez repróbkowania 50 Po repróbkowaniu 0 −50 0 50 100 Rząd harmonicznej Wyniki estymacji impedancji harmonicznej, model symulowany (góra), model laboratoryjny (dół). 26/31 Błędy w analizie częstotliwościowej sygnałów Efekt stosowania okien nieprostokątnych vs. repróbkowanie 0 Bez repróbkowania, okno prostokątne Bez repróbkowania, okno Hanninga Po repróbkowaniu, okno prostokątne Po repróbkowaniu, okno Hanninga −20 −40 Moc [dB] −60 −80 −100 −120 −140 −160 −180 0 5 10 15 20 Rząd harmonicznej 25 30 35 Poprawa tłumienia szumu tła dzięki zastosowaniu okna Hanninga lub/oraz repróbkowania. 27/31 Błędy w analizie częstotliwościowej sygnałów Aliasing Aliasing to nieodwracalne zniekształcenie sygnału w procesie próbkowania wynikające z niespełnienia założeń twierdzenia o próbkowaniu FS > 2 · fg . Powstaje ono poprzez dodanie się składowych powtórzonych widm do widma oryginalnego sygnału. |X(f)| Widmo sygnału oryginalnego (analogowego) przed spróbkowaniem fg - częstotliwość graniczna sygnału dolnopasmowego fS - częstotliwość próbkowania 0 Widmo sygnału spróbkowanego poprawnie FS > 2fg brak aliasingu -2fS -2fS -fS 0 Widmo sygnału spróbkowanego niepoprawnie FS < 2fg aliasing -2fS -2fS -fS f fg |XS(f)| fg fS 2fS |XS( f )| 0 28/31 fg fS 3fS f błędy spowodowane aliasingiem 2fS 3fS f Błędy w analizie częstotliwościowej sygnałów Przeciwdziałanie aliasingowi Jedynym sposobem uniknięcia aliasingu jest stosowanie analogowych dolnoprzepustowych filtrów przed próbkowaniem (tzw. filtry antyaliasingowe przed przetwornikiem A/C). Niestety filtry mają swoje ograniczenia. Przy stałym rzędzie filtra mocne tłumienie jest osiągane za cenę szerokiego pasma przejściowego lub oscylacji w paśmie przepustowym. Dlatego czasem stosuje się wielokrotne nadpróbkowanie z łagodnym filtrem niskiego rzędu, a następnie cyfrową filtrację i decymację, gdyż łatwiej jest zrealizować stromy filtr cyfrowy niż analogowy. 29/31 Błędy w analizie częstotliwościowej sygnałów Przykłady wpływu aliasingu na wyniki Dla sygnałów energetycznych charakterystyczne jest, że amplitudy ich harmonicznych maleją z częstotliwością (mniejsze są w napięciu, większe w prądzie), więc wpływ aliasingu na widmo jest mały. Czy zatem aliasing ma znaczenie? ∆U(f ) Tak, np. w estymacji impedancji harmonicznej systemu zasilającego Zu (f ) = ∆I(f ) 20 0 500 1000 1500 f [Hz] 2000 2500 abs(Zu) [ohm] 40 0 arg(Zu) [rad] 80 wartosc faktyczna estymata 1 estymata 2 60 40 20 2 2 1 1 0 −1 −2 wartosc faktyczna estymata 1 estymata 2 60 0 3000 arg(Zu) [rad] abs(Zu) [ohm] 80 0 500 1000 1500 f [Hz] 2000 2500 3000 0 500 1000 1500 f [Hz] 2000 2500 3000 0 −1 0 500 1000 1500 f [Hz] 2000 2500 −2 3000 Wyniki estymacji impedancji harmonicznej, z filtrem AA (lewa), bez filtra AA (prawa). 30/31 Literatura Lyons Richard G.: Wprowadzenie do cyfrowego przetwarzania sygnałów Przekładniki w elektroenergetyce. WKŁ, Warszawa 1999. Zieliński Tomasz. Od teorii do cyfrowego przetwarzania sygnałów AGH, Kraków 2002. Borkowski Dariusz. Zastosowanie metody synchronicznego repróbkowania sygnałów energetycznych w pomiarze zastępczej impedancji systemu elektroenergetycznego. Przegląd Elektrotechniczny, 7/8 2006. PN-EN 61000-4-7:2007 Kompatybilność elektromagnetyczna (EMC) – Część 4-7: Metody badań i pomiarów – Ogólny przewodnik dotyczący pomiarów harmonicznych i interharmonicznych oraz przyrządów pomiarowych, dla sieci zasilających i przyłączonych do nich urządzeń Warszawa 2006. 31/31