Właściwości powierzchni cienkich warstw indu i srebra / Krzysztof

Właściwości powierzchni cienkich warstw indu i srebra / Krzysztof
Okulewicz, Marek Trzciński, Antoni Bukaluk. – Bydgoszcz, 2012
Spis treści
1. Wstęp
5
2. Podstawowe informacje o badanych materiałach
7
3. Metody eksperymentalne
3.1. Ogólne wymagania dotyczące analizy właściwości powierzchni
3.2. Spektroskopia fotoelektronowa
3.3. Spektroskopia elektronów Augera
3.4. Dyfrakcja elektronów niskoenergetycznych
3.5. Mikroskopia ze skanującą sondą
3.6. Programowana termodesorpcja
10
10
12
17
21
23
27
4. Mechanizmy wzrostu indu i srebra na powierzchni wolframu
4.1. Badania wzrostu indu na powierzchni wolframu
4.2. Badania wzrostu srebra na powierzchni wolframu
29
29
45
5. Analiza dyfuzji powierzchniowej indu i srebra na powierzchni
wolframu
5.1. Ogólne zagadnienia dotyczące dyfuzji
5.2. Omówienie techniki pomiarowej
5.3. Przedstawienie profili dyfuzyjnych dla indu i srebra
5.3.1. Profile dyfuzyjne dla indu na powierzchni W(110)
5.3.2. Profile dyfuzyjne dla indu na powierzchni polikrystalicznego W
5.3.3. Profile dyfuzyjne dla srebra na powierzchni polikrystalicznego W
5.4. Omówienie wyników pomiarów parametrów dyfuzji powierzchniowej
In i Ag na powierzchni W
5.4.1. Dyfuzja indu na powierzchni W(110)
5.4.2. Dyfuzja indu na powierzchni polikrystalicznego wolframu
5.4.3. Dyfuzja srebra na powierzchni polikrystalicznego wolframu
6. Obserwacja tworzenia się stopu powierzchniowego Ag/In
na powierzchniach wolframowych
6.1. Obserwacja tworzenia się stopu powierzchniowego układu
ln/Ag/W(110) oraz Ag/ln/W(110)
6.2. Obserwacja tworzenia się stopu powierzchniowego In/Ag
wymuszonego dyfuzją w płaszczyźnie próbki na powierzchni
polikrystalicznego wolframu
55
55
57
59
59
62
64
67
67
69
70
72
72
77
7. Analiza cienkich warstw In/Ag/Cu i In/Ag/SiO2 metodą
spektroskopii elektronów Augera
7.1. Profile składu chemicznego cienkich warstw
7.2. Przedstawienie uzyskanych profili składu próbek
83
83
86
8. Podsumowanie
91
Literatura
93
oprac. BPK