AP 141 - Polskie Centrum Akredytacji

PCA
Zakres akredytacji Nr AP 141
ZAKRES AKREDYTACJI
LABORATORIUM WZORCUJĄCEGO
Nr AP 141
wydany przez
POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI
01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42
Wydanie nr 6 Data wydania: 25 listopada 2016 r.
Nazwa i adres
MIKRO POMIAR Mariusz Pałucki
ul. Śląska 88/33, 80-389 Gdańsk
LABORATORIUM WZORCUJĄCE
Różyny ul. Gdańska 45, 83-031 Łęgowo
AP 141
Kategoria laboratorium
Dziedziny akredytacji*)
wzorcujące
Wielkości geometryczne (6.01, 6.02, 6.03, 6.04)
działające w stałej
siedzibie (S) oraz
poza nią (P)
*)
Wersja strony: A
Numeracja dziedzin i poddziedzin zgodna z klasyfikacją podaną w załączniku do dokumentu DAP-04 dostępnym na stronie
internetowej www.pca.gov.pl
ZASTĘPCA DYREKTORA
TADEUSZ MATRAS
Niniejszy dokument jest załącznikiem do Certyfikatu Akredytacji Nr AP 141 z dnia 25.11.2016 r.
Status akredytacji oraz aktualność zakresu akredytacji można potwierdzić na stronie internetowej PCA www.pca.gov.pl
Wydanie nr 6, 25 listopada 2016 r.
str. 1/4
PCA
Zakres akredytacji Nr AP 141
Nazwa wielkości fizycznej
i rodzaj obiektu wzorcowania
6. Wielkości geometryczne
6.01
długość
płytki wzorcowe (klasy 0, 1, 2)
mikrometry zewnętrzne
głowice mikrometryczne
głębokościomierze mikrometryczne
suwmiarki
wysokościomierze suwmiarkowe
głębokościomierze suwmiarkowe
średnicówki czujnikowe
czujniki analogowe z uchylnym trzpieniem
o wartości działki elementarnej:
0,01 mm
0,002 mm
0,001 mm
czujniki cyfrowe z uchylnym trzpieniem
o rozdzielczości:
0,001 mm
0,01 mm
czujniki analogowe o wartości działki
elementarnej:
0,1 mm
0,02 mm
0,01 mm
0,01 mm
0,001 mm
0,001 mm
czujniki cyfrowe o rozdzielczości:
0,01 mm
0,001 mm
0,01 mm
0,002 mm
0,0001 mm
0,0005 mm
mikrometry z wbudowanym czujnikiem
transametry
pierścienie wzorcowe
średnicówki mikrometryczne dwupunktowe
wzorce nastawcze do wymiarów zewnętrznych
6.02
6.03
wzorce nastawcze do wymiarów
wewnętrznych
średnicówki mikrometryczne trójpunktowe
sprawdziany tłoczkowe
sprawdziany gwintowe trzpieniowe walcowe
sprawdziany gwintowe pierścieniowe walcowe
projektory pomiarowe
długościomierze pionowe Abbego
długościomierze poziome Abbego
długościomierze poziome (maszyny 1D)
mikroskopy pomiarowe uniwersalne
mikroskopy pomiarowe warsztatowe
wysokościomierze cyfrowe o rozdzielczości:
0,010 mm
0,005 mm
0,001 mm
0,0005 mm
0,0001 mm
komparatory do płytek wzorcowych
kąt
mikroskopy pomiarowe uniwersalne
mikroskopy pomiarowe warsztatowe
projektory pomiarowe
geometria powierzchni
płyty pomiarowe
6.04
pomiary współrzędnościowe
współrzędnościowe maszyny pomiarowe
głowice pomiarowe stykowe impulsowe
głowice pomiarowe stykowe
głowice pomiarowe stykowe skanujące
Zakres
pomiarowy
Niepewność pomiaru
CMC
Kat.
Lab.
(0,5 ÷ 100) mm
(0 ÷ 1600) mm
(0 ÷ 50) mm
(0 ÷ 200) mm
(0 ÷ 3200) mm
(0 ÷ 1000) mm
(0 ÷ 500) mm
(1,5 ÷ 500) mm
(0,05 + 0,8·L) µm
(1,1 + 20·L) µm
(1,1 + 20·L) µm
(1,1 + 20·L) µm
(28 + 15·L) µm
(28 + 15·L) µm
(28 + 15·L) µm
3,4 µm
S
S
S
S
S
S
S
S
(4 ÷ 500) mm
3,9 µm
S
± (0 ÷ 1,6) mm
± (0 ÷ 1,6) mm
± (0 ÷ 1,6) mm
3,5 µm
1,2 µm
1,2 µm
S
S
S
PP-S02-08
PP-S02-08
PP-S02-08
± (0 ÷ 1,6) mm
± (0 ÷ 1,6) mm
1,8 µm
11,6 µm
S
S
PP-S02-08
PP-S02-08
(0 ÷ 100) mm
(0 ÷ 100) mm
(0 ÷ 50) mm
(0 ÷ 100) mm
(0 ÷ 1) mm
(0 ÷ 2) mm
20 µm
20 µm
5,4 µm
3,7 µm
0,8 µm
0,8 µm
S
S
P
S
S
S
PP-S02-09
PP-S02-09
PP-S04-08
PP-S02-09
PP-S02-09
PP-S02-09
(0 ÷ 100) mm
(0 ÷ 100) mm
(0 ÷ 50) mm
(0 ÷ 100) mm
(0 ÷ 100) mm
(0 ÷ 100) mm
11,6 µm
1,8 µm
11,6 µm
11,6 µm
1,8 µm
1,8 µm
S
S
P
S
S
S
PP-S02-09
PP-S02-09
PP-S04-08
PP-S02-09
PP-S02-09
PP-S02-09
(0 ÷ 150) mm
(0 ÷ 100) mm
(2 ÷ 250) mm
(0 ÷ 1000) mm
(0,7 + 10·L) µm
(0,7 + 10·L) µm
(0,71 + 4,2·L) µm
(4 + L/0,075) µm
S
S
S
S
(0 ÷ 2800) mm
(1,5·L) µm
S
(0 ÷ 1000) mm
(4 + L/0,075) µm
S
(0 ÷ 1600) mm
(1,5·L) µm
S
(0 ÷ 160) mm
(160 ÷ 600) mm
(5 ÷ 200) mm
(0,5 ÷ 200) mm
(2 ÷ 200) mm
(3,5 ÷ 200) mm
(0 ÷ 450) mm
(0 ÷ 100) mm
(0 ÷ 3000) mm
(0 ÷ 3000) mm
(0 ÷ 400) mm
(0 ÷ 400) mm
0,95 µm
1,25 µm
3,5 µm
(0,7 + 3·L) µm
(3 + 10·L) µm
(3,5 + 10·L) µm
(0,9 + 8·L) µm
(1,5·L) µm
(1,5·L) µm)
(1,5·L) µm)
(0,9 + 8·L) µm
(0,9 + 8·L) µm
S
S
S
S
S
S
S, P
S, P
S, P
S, P
S, P
S, P
PP-S02-11
PP-S02-11
PP-S02-10
PP-S03-01
dla układu optycznego
PP-S03-01
dla układu interferencyjnego
PP-S03-02
dla układu optycznego
PP-S03-02
dla układu interferencyjnego
PP-S03-01
PP-S03-01
PP-S02-07
PP-S02-12
PP-S02-12
PP-S02-12
PP-S04-02
PP-S04-03
PP-S04-03
PP-S04-03
PP-S04-04
PP-S04-04
(0 ÷ 1500) mm
(0 ÷ 1500) mm
(0 ÷ 1500) mm
(0 ÷ 1500) mm
(0 ÷ 1500) mm
(0 ÷ 100) mm
10,8 µm
7,5 µm
(1,14 + 0,27·L) µm
(0,57 + 0,48·L) µm
(0,26 + 2,11·L) µm
0,033 µm
S, P
S, P
S, P
S, P
S, P
S, P
PP S04-05
PP S04-05
PP S04-05
PP S04-05
PP S04-05
PP-S04-07
(0 ÷ 360)°
(0 ÷ 360)°
(0 ÷ 360)°
2’
2’
2’
S, P
S, P
S, P
PP-S04-04
PP-S04-04
PP-S04-02
(250 · 250) mm ÷
(2000 · 2500) mm
(1,6 + 0,3·L) µm
S, P
PP-S04-01
(300 ÷ 2272) mm
(0,2 + 0,52·L) µm
P
30 mm
30 mm
30 mm
0,683 µm
0,683 µm
0,683 µm
P
P
P
Identyfikacja metody
PP-S01-01
PP-S02-01
PP-S02-01
PP-S02-02
PP-S02-03
PP-S02-04
PP-S02-05
PP-S02-06 wzorcowanie
płytkami wzorcowymi
PP-S02-06 wzorcowanie
głowicą mikrometryczną
PP-S04-06, PP-S04-09,
PP-S04-11
PP-S04-06, PP-S04-11
PP-S04-06, PP-S04-11
PP-S04-09
Wersja strony: A
Wydanie nr 6, 25 listopada 2016 r.
str. 2/4
PCA
Zakres akredytacji Nr AP 141
Nazwa wielkości fizycznej
i rodzaj obiektu wzorcowania
6.04
pomiary współrzędnościowe
Współrzędnościowe Systemy Pomiarowe
(WSP) z głowicą pomiarową optyczną
systemem obrazowania:
 Współrzędnościowe Maszyny Pomiarowe
z głowicą pomiarową optyczną
 Współrzędnościowe Mikroskopy
Pomiarowe
 Współrzędnościowe Projektory
Pomiarowe
Zakres
pomiarowy
Niepewność pomiaru
CMC
Kat.
Lab.
Identyfikacja metody
(0,1 ÷ 1336) mm
(0,5+1,29·L) µm
P
PP-S04-10
Wersja strony: A
Niepewność pomiaru CMC stanowi niepewność rozszerzoną przy prawdopodobieństwie rozszerzenia
ok. 95%. Wartość CMC wyrażona jest w jednostkach wielkości mierzonej.
L – jest wartością liczbową mierzonej długości wyrażoną w metrach.
Wydanie nr 6, 25 listopada 2016 r.
str. 3/4
PCA
Zakres akredytacji Nr AP 141
Wykaz zmian
Zakresu Akredytacji Nr AP 141
Status zmian: wersja pierwotna – A
Zatwierdzam status zmian
ZASTĘPCA DYREKTORA
HOLOGRAM
HOLOGRAM
HOLOGRAM
HOLOGRAM
TADEUSZ MATRAS
dnia: 25.11.2016 r.
Wydanie nr 6, 25 listopada 2016 r.
str. 4/4